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  • 品牌名称德国FISCHER X射线荧光测量系统
  • 官方主页:暂无
  • 浏览次数2410
  • 更新日期:2017-08-31
品牌介绍
 上海胤旭机电设备有限公司优价销售德国FISCHER袖珍式台式涂镀层测厚仪,德国FISCHER X射线荧光测量系统

HELMUT FISCHER Holding AG 涂镀层测厚、材料分析、微硬度测试和材料测试领域可以为您提供最先进的解决方案。公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立,自2008 年起由德国辛德芬根和瑞士休伦堡的 Helmut Fischer 基金会共同拥有。
Fischer 的产品线涵盖了测量和分析仪器,广泛应用于各个工业领域。使用合适的测量方法,可以获得准确的测量结果以及最佳的重复精度。无论是磁感应或是电涡流方法,β背散射法,库仑电解法,微硬度法或X射线荧光法
袖珍式涂镀层测厚仪袖珍式仪器,简便、快速、无损地在几乎所有金属上或只在铁/钢上测量涂层厚度
Fischer袖珍式涂镀层测厚仪产品特点
 仪器集成了探头,便于操作
 出色的重复精度
 受基材透磁率、电导率和几何形状(曲率和厚度等)影响小
 享有专利的电导率补偿技术(电涡流方法)
 快速的单手操作:将仪器放置于工件上即可看到测量读数
 两个背光液晶显示屏,便于从各个角度读取测量值,甚至可从仪器顶部读取读数
 耐用的探头和坚固的外壳
 记录测量值时可以发出声音和视觉的信号
典型应用领域
 油漆,例如汽车车身上的油漆
 防腐蚀镀层
 建筑物维护
Fischer主要产品系列和型号:PERMASCOPE® MP0、DUALSCOPE® MP0、PERMASCOPE® MP0R、ISOSCOPE® MP0R、DUALSCOPE® MP0R、PERMASCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0R-FP、DUALSCOPE® MP0RH-FP
台式设备,用于通常的涂层厚度测量和材料:FISCHERSCOPE® MMS® PC2

软件:FISCHER DataCenter用于评估和保存测量值的软件,用于确保质量的检测图软件
手持式涂镀层测厚仪
标准手持设备,用于对几乎所有金属上的涂层进行非破坏性厚度测量
DELTASCOPE® FMP10、ISOSCOPE® FMP10、DUALSCOPE® FMP20、DELTASCOPE® FMP30、ISOSCOPE® FMP30、DUALSCOPE® FMP40、DUALSCOPE® FMP100、DUALSCOPE® FMP150
PHASCOPE® PMP10
PHASCOPE® PMP10 DUPLEX
高精度探头
备件:校准器标准,三角架,试样支架等
ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射线荧光测量系统整体方案
FISCHERSCOPE® XUL®
稳定和低成本的X射线荧光测量仪,用于非破坏性的金属分析和涂层厚度测量
FISCHERSCOPE® XULM®
X射线荧光测量仪,用于对小部件进行非破坏性的材料分析和涂镀层厚度测量
FISCHERSCOPE® XAN® 120
X 射线荧光测试仪,用于快速、非破坏性的对黄金和银合金进行分析
FISCHERSCOPE® XAN® 220
用于快速无损分析黄金和银合金的 X 射线荧光测量设备
FISCHERSCOPE® XAN® 250
满足无损材料分析和涂层厚度测量最高要求的通用型X射线荧光测量设备
FISCHERSCOPE® XDL®
X 射线荧光测量仪,用于对功能性涂层、防腐蚀涂层和批量生产的零件进行手动或自动涂层厚度测
FISCHERSCOPE® XDLM®
X射线荧光测试仪,用于对电路板、电子元件和批量零件的涂层厚度进行手动或自动测量,也适用于小型结构
FISCHERSCOPE® XDAL®
X 射线荧光测量仪带有可编程的 X/Y台和Z轴,用于自动测量涂镀层厚度和材料分析
FISCHERSCOPE® XDV®-SDD
满足高要求的 X 射线荧光测试仪,带有可编程的 X/Y 工作台和 Z 轴,用于自动测量极薄的涂层和进行印痕分析
FISCHERSCOPE® XDV®-µ
带有毛细管X 光透镜的 X 射线荧光测量仪,用于在小零件和结构上自动测量并分析涂层厚度及涂层成分
FISCHERSCOPE® XUV® 773
X 射线荧光测试仪带有真空室,通用型高级设备测量具有全面的测量能力
FISCHERSCOPE® X-RAY-4000
X 射线荧光测量系统,用于在光滑的和压印的(包括带有铸模接触面)带钢生产工艺中进行连续的在线测量和分析
FISCHERSCOPE® X-RAY-5000
X 射线荧光测量系统,用于在生产工艺中对较薄的镀层如 CIGS、CIS 或 CdTe 进行连续的在线测量和分析
校准标准
校准标准 FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射线荧光测量系统的软件
WinFTM® 软件®
适用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射线荧光测量系统的软件
备件
X-RAY 产品备件
用于库仑电量分析的涂层厚
度测量设备 COULOSCOPE® CMS
台式设备,用于金属或非金属基材、单层和多涂层系统上所有金属涂层的库仑电量涂镀层厚度测量
COULOSCOPE® CMS STEP
台式设备,用于对金属或非金属基材上几乎所有金属涂层的厚度进行库仑电量测量,可以测量单层和多层系统和多层系统的
52102968
 
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